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红外显微镜BX53IR可对裸眼不可见的区域进行无损的检查和分析,以及近红外观察特化的显微镜。红外显微镜BX53IR
可对裸眼不可见的区域进行无损的检查和分析,以及近红外观察特化的显微镜。能对半导体晶片内部和集成电路组件背面进行无损的CPS bumps观察
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可对裸眼不可见的区域进行无损的检查和分析,以及近红外观察特化的显微镜。能对半导体晶片内部和集成电路组件背面进行无损的CPS bumps观察
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