点击图片查看原图
薄膜测厚仪又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等，薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。
塑料包装材料厚度是否均匀是检测其各项性能的基础。包装材料厚度不均，会影响到阻隔性、拉伸强度等性能；对材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段。
采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。
薄膜测厚仪的技术特征：
严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制；
测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差；
支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择；
实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断；
配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性；
系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果；
系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看；
标准的RS232接口，便于系统的外部连接和数据传输；
支持Lystem?实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告。
薄膜测厚仪如有需要欢迎访问以下网址与我们取得联系
http://www.saicheng17.com/Products-23221871.html
https://www.chem17.com/st97305/product_23221871.html
薄膜测厚仪的技术特征